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- 2023-04-25 发布于北京
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本申请提供一种3DNAND存储器件及其制造方法,多个存储区域通过伪存储区域进行分隔,刻蚀堆叠层以在伪存储区域中形成多个栅线隔离缝隙和伪沟道孔,通过在栅线隔离缝隙的侧壁形成绝缘层,以在栅线隔离缝隙中形成连接孔,在连接孔中填充金属,以在栅线隔离缝隙中形成接触插塞,最终通过多个接触插塞形成从3DNAND存储器件的一侧表面至相对的另一侧表面的电连接。由此可见,本申请通过在栅线隔离缝隙中形成接触插塞,能够在3DNAND存储器件中形成足够的接触插塞,并且能够避免降低存储区域占据存储器件的面积,提高存储
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114038860 A
(43)申请公布日 2022.02.11
(21)申请号 202111369252.8
(22)申请日 2021.11.18
(71)申请人 长江存储科技有限责任公司
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