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- 2023-04-25 发布于北京
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一种用于晶圆级MEMS真空封装的金属扩散吸附系统,在盖片内刻蚀有真空腔,在盖片的外侧墙上淀积有过渡金属,过渡金属的扩散,使其到达内侧墙,形成金属吸气层;盖片与晶圆之间设置有密封金属条,谐振腔设置在MEME晶圆上,MEME晶圆和吸气层内带有腔体结构。一种用于晶圆级MEMS真空封装的金属扩散吸附系统的工艺,在盖片的外侧墙上淀积过渡金属,形成金属吸气层;高温退火,改善过渡金属的扩散,使其快速到达腔内墙与气体反应,提高真空度,同时也能使硅烷和氢气通过化学反应消除增加密封性。本发明的优点:吸附键合后真空腔
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114057156 A
(43)申请公布日 2022.02.18
(21)申请号 202111572795.X B81C 3/00 (2006.01)
(22)申请日 20
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