量子芯片测试方法、装置及系统.pdfVIP

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2023-04-25 发布于北京
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量子芯片测试方法、装置及系统.pdf

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本申请提供一种量子芯片测试方法、装置及系统，通过将测试流程参数以预设程序解析文件的形式上传到服务器的目标数据库中，通过服务器转化为脉冲信号指令并发送给量子测控装置，由此量子测控装置可以根据脉冲信号指令生成脉冲测试信号从而加载到待测量子芯片上进行测试，并自动获取测试数据后将测试数据实时更新到目标数据库中，计算机设备加载测试数据并对测试数据进行数据处理后，生成测试结果。如此，通过将传统技术中的人工测试过程以程序形式自动生成对应的脉冲测试信号，完成整个芯片测试的流程，进而有效提高测试效率，并且便于适配

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114062886 A (43)申请公布日 2022.02.18 (21)申请号 202010748565.3 (22)申请日 2020.07.30 (71)申请人合肥本源量子计算科技有限责任公