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核反应检测装置及方法和程序.pdfVIP

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  • 2023-04-25 发布于四川
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核反应检测装置及方法和程序.pdf

    核反应检测装置(100)具备：半导体存储器(100)，其被配置于放射线所入射的环境；位置信息存储部(210)，其存储半导体元件在半导体存储器(100)中的空间位置信息；比特位置确定部(220)，其对在半导体存储器(100)所包含的半导体元件中发生了SEU的情况进行检测，并且确定发生了该SEU的半导体元件；位置计算部(230)，其根据确定出的所述半导体元件和所述空间位置信息，计算发生了SEU的空间位置。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114072805 A (43)申请公布日 2022.02.18 (21)申请号 202080048965.1 加美山隆　佐藤博隆　鬼柳善明　 (22)申请日

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