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本发明涉及一种基于频谱技术和断言切换技术的缺陷定位方法。本发明主要考虑如何获得更准确的切片以及如何将切片与可疑列表相结合，首先对程序的失败测试使用断言切换技术找出所有的关键断言；然后对该失败测试进行切片，获取到切片；接着，采用频谱技术对程序分析，即执行程序的所有测试用例收集到频谱信息，利用频谱信息计算出所有可疑元素以及对应的怀疑度分数；最后基于所获得的切片以及怀疑度分数重新计算出新的可疑列表对缺陷进行定位。本发明增强了切片和频谱组合技术对于一些遗漏型缺陷的定位，并进一步提高了切片与频谱技术结合后
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114153735 A
(43)申请公布日 2022.03.08
(21)申请号 202111480144.8
(22)申请日 2021.12.06
(71)申请人 杭州电子科技大学
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