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本发明公开了一种基于GRE图像和磁纳米粒子的温度测量方法及系统，属于纳米材料测试技术领域，包括：将磁纳米粒子导入待测对象，得到待测样品，并在已知温度下获取待测样品在多个TE时间下的GRE图像，作为对应TE时间下的参考图像；多个TE时间包含预先确定的目标TE时间；在目标时刻，获取待测样品在多个TE时间下的GRE图像，计算待测样品在各TE时间下的图像相位差ΔΦ和图像幅值变化，并拟合T2*弛豫时间；根据预先标定的相位差与磁纳米粒子浓度和温度的对应关系f(C,T)、T2*弛豫时间与磁纳米粒子浓度和温度的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 114199405 B
(45)授权公告日 2022.08.16
(21)申请号 202111423713.5 (56)对比文件
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