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一种分选和测试一体的芯片FT测试系统和方法.pdfVIP

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  • 2023-05-04 发布于四川
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一种分选和测试一体的芯片FT测试系统和方法.pdf

    本发明涉及一种分选和测试一体的芯片FT测试系统，其包括测试主机、分选机以及待测芯片；所述测试主机内部集成有多个ADC测试端口；所述分选机具有对待测芯片进行拾取和放置的基本功能；所述待测芯片具有对应的测试端口；所述测试主机和分选机之间以TTL电平信号的方式传输信号；所述待测芯片通过视觉传感器向分选机提供视觉方向信号；所述分选机对待测芯片进行抓取、放置和方向调整动作；所述测试主机对待测芯片进行检测，待测芯片将检测结果反馈给测试主机进行处理。本发明其能够直观地对芯片的电功能进行测试，并进行筛选及分类，

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114247664 A (43)申请公布日 2022.03.29 (21)申请号 202111609546.3 (22)申请日 2021.12.27 (71)申请人 厦门科塔电子有限公司

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