一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法.pdfVIP

下载本文档

0
0
约1.43万字
约 13页
2023-05-04 发布于北京
举报
版权申诉

一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法.pdf

1、本文档共13页，其中可免费阅读12页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开了一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法，用于响应测试设备上冷头部件的更换提示，对冷头的备件更换和部件维修作出信息化管理，每个冷头部件预设有唯一身份标识信息，管理系统包括终端设备和服务器数据库，终端设备包括拍照装置、PC、PC端的库存管理‑视觉检测软件；终端设备部署于不同站点，用于每一站点的库存记录更新和外观检查，其中库存数据库存放每个备件的编号、出/入库状态、检查状态信息。本发明把库存管理和外观检测结合进行，执行效率更高；自动读取备件编号，自动调取检测参数，可实现不同种类备

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114264848 A (43)申请公布日 2022.04.01 (21)申请号 202111420902.7 (22)申请日 2021.11.26 (71)申请人苏州通富超威半导体有限公司