一种后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法.pdfVIP

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  • 2023-05-05 发布于四川
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一种后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法.pdf

本发明揭示了后段质检MAP图与前段客供MAP图的比对方法,所述方法包括如下步骤:S100、建立流程卡号与后段质检MAP图所对应文件的映射;S200、提供前段客供MAP图所对应文件的存储路径;S300、根据所述映射和所述存储路径,对质检MAP图所对应文件和前段客供MAP图所对应文件进行比对,比对后,生成比对MAP图文件。本发明摒弃了现有技术中人工比对文件的方法,相比现有技术,本发明更加快捷方便,且不容易出错,方便作业人员快速并精确的进行晶圆测试质检。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114297153 A (43)申请公布日 2022.04.08 (21)申请号 202111585527.1 (22)申请日 2021.12.22 (71)申请人 上海利扬创芯片测试有限公司

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