自刷新周期测试方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-05-05 发布于北京
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本公开是关于一种自刷新周期测试方法和装置,涉及集成电路技术领域。该自刷新周期测试方法包括:执行预设次数的数据保持能力获取步骤,所述数据保持能力获取步骤包括确定预设刷新时间;发送自刷新进入指令,以控制所述存储器进入自刷新操作;在所述存储器执行所述预设刷新时间的自刷新后,发送自刷新退出指令,以控制所述存储器退出自刷新操作;检测所述存储器当前的所述数据保持能力;获取所述数据保持能力关于对应的所述预设刷新时间的函数的周期;通过所述函数的周期确定所述存储器的自刷新周期。本公开通过数据保持能力的不一致性,可

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114333972 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202011063892.1 (22)申请日 2020.09.30 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司

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