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本发明公开了一种自对准高精度铌酸锂调制器的制备方法,包括以下步骤:S1:对有基底、下包层、薄膜铌酸锂构成的晶圆通过前序工艺沉积金属层;S2:采用光刻技术将波导的金属掩膜和电极的图形转移至金属层;S3:经铌酸锂刻蚀工艺在波导两侧刻蚀沟槽形成铌酸锂波导;S4:通过半导体工艺在金属层上制备保护层;S5:对保护层图形化,电极上面的保护图形将电极包覆,而波导上面的金属掩膜裸露在外;S6:去除裸露在外的金属掩膜;S7:去除保护电极的保护图形;S8:制备上包层。本发明在图形化金属层时,同时将制备波导所需的金属
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114371561 A
(43)申请公布日 2022.04.19
(21)申请号 202111664187.1
(22)申请日 2021.12.31
(71)申请人 苏州易缆微半导体技术有限公司
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