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基于STM32单片机的放大电路特性测试 仪设计
摘 要
在放大电路中当输入信号超过预定参考信号一个小增量时，感测放大器的检测、放大输入信号电平和参考电压 电平之间的差变会进行一定的损耗，这就使得在电子电路的设计过程中，如果不能及时的得到放大电路的特就会对 所设计的电路造成一定的影响。 因此本文基于此设计一种基于STM32的放大电路特性测试仪的设计，本文以单片机控 制为设计基础，设计研发电路特性测试系统，使电路设计能够在基本的设计原理中得到一定的质量保证。本系统设
计主要从设计原理出发，对其输入电阻、输出电阻测量原理以及电路故障检测原理入手，提出了系统设计的整体方 案。并对单片机电
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