用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法.pdf

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本发明公开用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法，包括以下步骤：S1分割图像，根据图像信息熵将空间中低纹理结构化场景中的图像信息区分为高熵区域和低熵区域；S2对高熵区域使用严格的点特征进行特征提取；S3对低熵区域的图像中的线特征进行特征提取，并设定线几何约束规则对线特征进行筛选；S4图像融合：将高熵区域的点特征和低熵区域的线特征一起加入位姿优化。本发明算法特别适用于以火电厂锅炉水冷壁为代表的一类膜式壁环境，这类场景普遍具有低纹理结构化特征；相较标准PL‑SLAM算法，在该场景下本发明

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114494437 A (43)申请公布日 2022.05.13 (21)申请号 202210090225.5 (22)申请日 2022.01.25 (71)申请人浙江工业大学