光学测量设备.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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一种光学测量设备,其相对于基准面进行光轴调节并获得高测量精度。在箱形光接收壳体的外面中,具有在放置光接收壳体时成为基准的基准面。在光接收壳体中,安装有光接收侧远心透镜。保持二维成像元件的成像元件保持件设置于光接收壳体的与导入开口相对的内面,并且二维成像元件以位置和姿势可调的方式安装。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114518069 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202111319078.6 (22)申请日 2021.11.09 (30)优先权数据 2020-193509 202

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