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一种电子元器件瑕疵识别方法.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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一种电子元器件瑕疵识别方法.pdf

    本发明提供一种电子元器件瑕疵识别方法及检测设备、存储介质，包括极箔瑕疵检测过程、芯包瑕疵检测过程，所述极箔瑕疵检测过程包括：S101提取图片中待测目标信息，确定待测目标位置在图片中的具体位置；S102获取待测目标的极箔信息，并与极箔预设值比对，确定极箔信息是否符合极箔预设值，若不符合，则为瑕疵电子元器件；所述芯包瑕疵检测过程包括：S201确定芯包在图片中的位置；S202获取芯包信息，并与芯包预设值比对，确定芯包信息是否符合芯包预设值，若不符合，则为瑕疵电子元器件。本发明设置了极箔瑕疵检测过程、芯

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114518365 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202210166659.9 (22)申请日 2022.02.22 (71)申请人 湖南云眼智能装备有限公司 地址 4

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