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- 2023-05-10 发布于四川
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本发明涉及一种用于检测具有至少一个透镜(6)或透镜组的光学系统(4)的成像品质的设备(2)。该设备(2)包括用于在光学系统(4)的视野中的多个位置处测量调制传递函数的MTF测量装置(10)，以及用于测量光学系统(4)的对中状态的对中测量装置(18)。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114518220 A
(43)申请公布日 2022.05.20
(21)申请号 202210258826.2 (74)专利代理机构 北京聿华联合知识产权代理
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