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伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质.pdf

    本发明公开一种伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图片处理技术领域，方法包括：获取至少一个初始样本，初始样本为标注的待检测零部件的待检测图；将初始样本输入缺陷样本生成模型，生成至少一个扩充图像，缺陷样本生成模型为生成对抗网络模型；根据至少一个初始样本与至少一个扩充图像，得到零部件伪缺陷库；本发明通过缺陷样本生成模型生成待检测图的扩充图像，得到零部件伪缺陷库，通过缺陷样本生成模型根据待检测图扩充缺陷样本，通过伪缺陷检测模型基于伪缺陷库检测并去除待检测图的伪缺陷，输出待检测图的缺陷种

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114511570 A (43)申请公布日 2022.05.17 (21)申请号 202210413571.2 G06V 10/82 (2022.01)

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