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本发明公开了一种基于光开关阵列的光谱测量方法，将一组整形参数各不相同的宽谱整形单元设置为多级结构，多级结构的每一级均包含复数个宽谱整形单元；利用多级光开光阵列从所述多级结构的每一级中同时选通一个宽谱整形单元，使得所选通的多个宽谱整形单元级联组合为一个宽谱整形器件；通过调整多级光开光阵列的选通方式得到一系列输出函数各不相同的宽谱整形器件，并利用这一系列宽谱整形器件对待测光信号分别进行全局采样；根据所得到的一系列全局采样结果重建出待测光谱。本发明还公开了一种基于光开关阵列的光谱测量装置。相比现有技术
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 114563086 B
(45)授权公告日 2022.07.01
(21)申请号 202210456113.7 审查员 赵子甲
(22)申请日 2022.04.28
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