高纯锗单晶霍尔测试用微型探针台及测试方法.pdfVIP

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本发明提供了一种高纯锗单晶霍尔测试用微型探针台及测试方法,属于霍尔测试技术领域,其中一种高纯锗单晶霍尔测试用微型探针台,包括检测台和四个探针组件;检测台的上端面设有矩形的样片放置区;检测台内具有电路板,电路板与霍尔测试仪电连接;四个探针组件均匀分布在样片放置区的四周,探针组件包括固定片、限位杆和探针;固定片位于检测台的上端并与限位杆转动连接;探针连接在固定片的另一端,探针可纵向调节。本发明提供的高纯锗单晶霍尔测试用微型探针台,有效避免了引线焊接产生的虚焊、断焊等导致的欧姆接触失败,提高了连接的稳

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116087571 A (43)申请公布日 2023.05.09 (21)申请号 202310339974.1 (51)Int.Cl .

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