用于标定光学测量结构的方法.pdfVIP

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2023-05-11 发布于四川
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本发明涉及一种用于标定光学测量结构的方法，该光学测量结构具有播撒有粒子的测量体积(V)并且具有至少两个相机(K1、K2、K3)，借助相机能在不同的观察角度下分别利用由预标定已知的映射函数将测量体积(V)成像，该方法包括步骤：a)借助相机(K1、K2、K3)将测量体积(V)同时成像，用以针对每个相机(K1、K2、K3)分别产生相机图像(I1、I2、I3)。本发明的特征在于具有另外的步骤：b)参照测量体积(V)中的共同的参考平面在使用分别配属的预标定的映射函数的情况下对每个相机图像(I1、I2、I3

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 110622216 A (43)申请公布日 2019.12.27 (21)申