一种线粒体探针的荧光强度校正方法、细胞浓度检测方法.pdfVIP

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2023-05-12 发布于北京
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一种线粒体探针的荧光强度校正方法、细胞浓度检测方法.pdf

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本发明提供了一种线粒体探针的荧光强度校正方法、细胞浓度检测方法。其中，校正方法包括以下步骤：S110：获取标准样本的细胞浓度值X，检测细胞浓度值X对应的线粒体探针的荧光强度值Y；S120：根据标准样本的细胞浓度值X和荧光强度值Y建立Logit校正模型；S130：根据Logit校正模型，将待测样本的荧光强度真实值yi校正为荧光强度校正值yk。通过本发明提供的校正方法对荧光强度真实值yi进行校正，使得荧光强度值不受细胞浓度值的影响，提高了线粒体探针检测的准确性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114577774 B (45)授权公告日 2022.08.09 (21)申请号 202210495602.3 审查员刘文芳 (22)申请日 2022.05.09