一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统.pdfVIP

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2023-05-12 发布于北京
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一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统.pdf

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一种可编程逻辑器件封装模块的安全性测试方法和系统，方法包括以下步骤：针对所述封装模块的每个功能，采用软件故障树分析法和软件失效模式与影响分析法进行故障分析，得到每个功能对应的综合故障树；以每个所述综合故障树中的最小割集为约束条件构建测试用例，所有测试用例构成测试用例集合；采用遗传算法从所述测试用例集合中选择最优测试用例组，所述最优测试用例组对所述可编程逻辑器件的封装模块进行测试，得到所述可编程逻辑器件的封装模块的安全性测试结果。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114610614 A (43)申请公布日 2022.06.10 (21)申请号 202210228824.9 (22)申请日 2022.03.08 (71)申请人北京京航计算通讯研