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本发明公开一种区分脏污和真实缺陷的光学检测方法，首先通过架设线扫相机组构建的扫描通道来扫描待检测工件表面以获取其立体构型，后进行视觉查验，标记缺陷位置，随后在扫描通道内架设激光反射式探伤光源，对标记出的缺陷位置进行近点探伤，近点探伤时，将激光反射式探伤光源牵引至缺陷位置正上方，发出若干道垂直于缺陷所在位置的切面的平行激光射线，为激光反射式探伤光源底部配置配合的反射光接受面，当反射光接受面接收到缺陷位置反射的激光时，判断接收到的反射光范围大小，当接收到的反射光范围小于平行激光射线的发射范围时则说明
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114660067 A
(43)申请公布日 2022.06.24
(21)申请号 202210179585.2
(22)申请日 2022.02.25
(71)申请人 厦门聚视智创科技有限公司
地址 3
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