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本申请公开了一种原料杂质自动检验控制系统，包括集散控制单元、上位机，集散控制单元连接控制粗破碎装置、细破碎装置、水分检测仪、除尘装置、料斗仓，所述集散控制单元包括变频回路、电动机回路和软启回路。具有以下优点：配备原料杂质自动检验系统后，可以实现整包化验，只需记录整包重量，进入上料链板后经粗破碎、细破碎、筛分绞龙后杂质进入料斗仓，料斗称测量杂质重量后杂质排入风送系统；杂质重量与整包重量计算后得出含杂量；整包水分检测可实时测量物料的整包水分，为原料质量检验提供可靠的检验数据。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113145286 A
(43)申请公布日 2021.07.23
(21)申请号 202110206165.4 B02C 13/284 (2006.01)
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