一种自动测试参数化单元功能的方法.pdfVIP

一种自动测试参数化单元功能的方法.pdf

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本发明公开了一种自动测试参数化单元功能的方法,而该方法包括:提供一种PDK库并设置路径;提供一种EDA工具并设置EDA工具环境变量;读取PDK库,获取器件名称列表;选定待测试的单个器件或多个器件,根据选定的器件读取CDF参数;根据用户的需要选择要进行测试的CDF参数;设置测试参数化单元的模式,生成CDF参数的测试值;调用EDA工具进行参数化单元的生成和排列,并抽取GDS文件,从而达到快速,自动的生成大量属性各异的参数化单元并从中提取参数化单元的信息,实现对参数化单元自动测试的功能。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114661596 A (43)申请公布日 2022.06.24 (21)申请号 202210276632.5 (22)申请日 2022.03.21 (71)申请人 浙江大学 地址 310058 浙江

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