一种光电二极管结电容测量装置及方法.pdfVIP

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2023-05-13 发布于四川
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一种光电二极管结电容测量装置及方法.pdf

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本发明公开一种光电二极管结电容测量装置及方法，包括待测光电二极管、可调偏置电压模块、跨阻放大模块、锁相放大器以及上位机模块。避光条件下，待测光电二极管一端与可调偏置电压模块相连，一端与跨阻放大模块的反相输入端相连，锁相放大器输出扫频信号接入跨阻放大模块的正相输入端作为激励信号，并采集跨阻放大模块的输出信号上传给上位机，上位机根据系统响应函数拟合出待测光电二极管的结电容。本发明可以间接测量出不同偏置电压下的光电二极管结电容，拟合均方误差仅为10‑4量级，具有测量步骤简单，精度高的优点，适用于光电二

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114646813 A (43)申请公布日 2022.06.21 (21)申请号 202210517981.1 (22)申请日 2022.05.13 (71)申请人之江实验室地址 311121 浙