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本发明属于电子电路技术领域,涉及一种碳化硅MOSFET短路过流组合检测方法和系统,包括:根据SiCMOSFET的输出特性曲线,判断SiCMOSFET的导通电压是否大于第一电压阈值,若是则触发保护动作;在SiCMOSFET的开尔文极和源极之间设置寄生电感,检测寄生电感产生的感应电压,将感应电压输入积分器中,获得积分电压,判断积分电压是否小于第二电压阈值,若是则触发保护动作;将去饱和保护检测信号和开尔文保护检测信号进行或运算,然后输出总保护信号,统一触发后续保护动作。其能够对SiCMOSFE
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114660433 A
(43)申请公布日 2022.06.24
(21)申请号 202210240281.2
(22)申请日 2022.03.10
(71)申请人 清华大学
地址 100084 北京
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