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本公开实施例提供了一种三维存储器及其制造方法。该方法包括以下步骤:提供半导体结构,所述半导体结构包括衬底和位于所述衬底上的堆叠结构,所述堆叠结构包括交替层叠的栅极层和介电层;或者,所述堆叠结构包括交替层叠的伪栅极层和所述介电层,其中,所述栅极层可替代所述伪栅极层;在所述堆叠结构的栅线隙区中形成凹槽,其中,所述凹槽贯穿多层所述栅极层和所述介电层;或者,所述凹槽贯穿多层所述伪栅极层和所述介电层;在所述堆叠结构表面及所述凹槽中形成绝缘层,其中,所述凹槽上方的绝缘层相对远离所述衬底的表面具有凹陷;以及对
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114667603 A
(43)申请公布日 2022.06.24
(21)申请号 202180006374.2 (74)专利代理机构 北京派特恩知识产权代理有
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