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本发明涉及中一种半导体存储器结构及接触孔填充导电材料的方法。接触孔中填充导电材料的方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底中形成有源区;在所述半导体衬底上方形成介质层,在所述介质层中形成露出一部分所述有源区的接触孔;向接触孔中沉积硅籽晶层;在所述硅籽晶层表面沉积高掺杂硅层;在所述高掺杂硅层表面沉积低掺杂硅层;在所述低掺杂硅层表面沉积无掺杂硅层;其中,所述高掺杂硅层中掺杂原子的含量>所述低掺杂硅层中掺杂原子的含量。本发明实现了接触孔内孔洞更少连接的目的,并且采用梯度掺杂的硅层叠而成的导电材料,
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114695264 A
(43)申请公布日 2022.07.01
(21)申请号 202011568330.2
(22)申请日 2020.12.25
(71)申请人 中国科学院微电子研究所
地址 10
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