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- 2023-05-14 发布于四川
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本发明公开一种半导体器件及其制作方法、集成电路和电子设备,涉及半导体器件技术领域,用以抑制环栅晶体管漏电问题的产生。该半导体器件的制作方法包括:提供一衬底;在衬底上形成立体沟道结构、源极结构和漏极结构,源极结构和漏极结构均与立体沟道结构连接;立体沟道结构采用离子扩散方式或原位掺杂方式形成;在立体沟道结构上形成栅极结构,获得环栅晶体管。本发明提供的半导体器件及其制作方法、集成电路和电子设备用于半导体器件及集成电路的制作。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 111243955 A
(43)申请公布日
2020.06.05
(21)申请号 20201
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