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本文公开了用于分析包含至少一种分析物的材料(12)的装置(10)，所述装置(10)包括测量体(16)、激发辐射源以及检测光源，所述测量体具有适于与所述材料(12)热接触或压力传递接触的接触表面(14)，所述激发辐射源被配置用于将激发辐射照射到所述材料(12)中以在其中被吸收，所述检测光源用于产生通过所述测量体(16)的至少一部分或包括在所述测量体(16)中的组件行进的检测光束(22)，其中所述检测光束被引导在所述接触表面(14)处被全反射或部分反射，其中所述测量体的接触表面(14)在检测光束(2
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116113820 A
(43)申请公布日 2023.05.12
(21)申请号 202080104881.5 迈克尔 ·卡鲁扎
(22)申请日 2020.07.31
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