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一种光学测量系统(20)，所述光学测量系统包括用于发射电磁辐射(16)的装置(103)，所述装置具有多个激光元件(102)。所述光学测量系统还包括光学元件(106)，所述光学元件具有第一波导(107)并且适合于使入射的电磁辐射(16)的第一子光束透过，以及将所述电磁辐射的第二子光束在第一位置上耦合输入到所述第一波导(107)中并且在第二位置(108)上从所述第一波导(107)中耦合输出。所述光学测量系统还包括多个检测器(105)，以用于探测通过在对象(15)处反射的电磁辐射(17)和从所述第一波
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116113850 A
(43)申请公布日 2023.05.12
(21)申请号 202180061675.5 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限
知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来， 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作， 经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。
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