一种平移式分选机、芯片测试方法和芯片测试设备.pdfVIP

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  • 2023-05-16 发布于四川
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一种平移式分选机、芯片测试方法和芯片测试设备.pdf

本公开的实施例提供一种平移式分选机,包括:具有上料区和多个下料区的机台以及多个料盘;至少一个所述料盘设置有防复测部;以及,至少一个所述下料区被配置为防复测下料区;其中,设置有所述防复测部的所述料盘被配置于对应的所述防复测下料区,其余所述料盘被配置于所述上料区和其它所述下料区。本公开的实施例通过在料盘上设置防复测部,以及将下料区配置为防复测下料区,并使该种料盘只能对应配置于防复测下料区,使用手动撤出等方式防止放入防复测下料区的料盘上的不可再测试芯片进入上料区重复测试。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115999956 A (43)申请公布日 2023.04.25 (21)申请号 202310075165.4 (22)申请日 2023.02.01 (71)申请人 通富微电子股份有限公司 地址 2

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