荧光定量分析的原理及过程.pptVIP

单点法扣背景 Rn=Rp-Rb 第三十页，共六十七页，2022年，8月28日 两点法扣背景 第三十一页，共六十七页，2022年，8月28日 非线性区峰底背景计算 峰底背景利用通过4个背景点的多项式进行计算：式中: BgC表示常数项；BgL表示 一次项；BgQ表示二次项； BgT 表示三次项。X表示背景与主峰的2?角之差; R(background)表示峰位的背景强度 第三十二页，共六十七页，2022年，8月28日 非线性区峰底背景计算 式中：X1, X2, X3, X4 分别表示 Bg1 , Bg2, Bg3 和 Bg4的2?角; L1(X), L2(X), L3(X) ,L4(X)表示校正系数 第三十三页，共六十七页，2022年，8月28日 定量分析的基本方法 定量分析方法根据基体影响处理不同可分为实验校正和数学校正两类。 1. 实验校正法: 外标法，内标法，散射线内标法，潜在内标法和增量法。 2. 数学校正法: 经验系数法，理论系数法和基本参数法 第三十四页，共六十七页，2022年，8月28日 实验校正法 1. 外标法(校正曲线法) ：这是应用最广泛的一种方法。用跟测定样品组成类似的多个标样，据其含量和测得的X射线荧光强度的关系预先作好校正曲线(下图)，测定未知样品的X射线荧光强度，再使用校正曲线来确定含量的分析方法叫做校正曲线法。 常用的外标法有：直接校准法、稀释法、增量法和薄试样法等方法。 第三十五页，共六十七页，2022年，8月28日 实验校正法 2.内标法: 取分析元素与混入样品中已知量的内标元素的X射线强度之比绘制校准曲线，计算样品的浓度。这种方法的优点：能有效地补偿基体的吸收－增强效应和样品状态变化的影响。 第三十六页，共六十七页，2022年，8月28日 实验校正法 3. 散射内标法： 选择一条靶的散射线或某波长处连续散射线作为内标来校 正吸收效应和样品密度的变化。 包括靶线内标法和本底内标法。 散射线内标法对轻基体中少量或微量元素的测定是广为使 用的方便而实用的方法。 第三十七页，共六十七页，2022年，8月28日 实验校正法 内标的选择原则： 1. 内标元素与分析元素分析线波长和吸收限尽量接近， 但彼此没有任何干扰。 2. 应选择那些在分析样品和标样中都不存在或即使存在也含 量甚微的元素作为内标元素。 3. 确定内标元素的添加量，要使内标元素的X射线强度与分 析元素的X射线强度大小相当。一般内标与分析元素的 原子序数相差±1时候最佳。 4. 分析浓度大于10%的成分,不宜采用内标法 第三十八页，共六十七页，2022年，8月28日 数学校正法 数学校正法: 这是当用分析校正曲线法不能克服基体效应(吸收增强效 应)时采用的靠数学计算来校正基体效应的一种方法。即 以数学解析方法校正基体的吸收－增强影响，实现分析线 强度与元素浓度的准确换算。该方法可分为经验系数法、 理论Alpha系数法和基本参数法。 第三十九页，共六十七页，2022年，8月28日 数学校正法 1. 经验系数法： 根据某种经验模式，依据一组标准样品，根据所给出的组分参考值和测得的强度，使用线性或非线性回归的方法求得影响系数，实现强度与浓度的准确换算。 为了获得准确的系数，必须使用数量足够的标准样品，根据精度公式计算经验系数必须的标准样品数量：n =3K+2。这样可保证回归计算的精度。 C C n k chem calc = － - S [ ] 2 RMS 第四十页，共六十七页，2022年，8月28日 经验校正数学模型 数学模型 第四十一页，共六十七页，2022年，8月28日 数学校正法 2. 理论影响系数法 由已知或假设组分浓度的试样，以理论公式计算出理论影响系数，从而校正基体效应，实现强度与浓度准确换算。辅以少量标准样品建立校准曲线 ，并计算未知样品的分析浓度。随仪器配备的应用软件都可以进行这种计算。 第四十二页，共六十七页，2022年，8月28日 理论 Alpha系数法数学模型 Ci = (Di + Ei Ri )(1+M) 说明: 用该数学模型计算理论?系数时,Z只代表浓度;用于经验公式时既可代表浓度,也可代表强度. 第四十三页，共六十七页，2022年，8月28日 基本参数法 3. 基本参数法 把用理论公式求出的X射线荧光强度和实测强度对