一种半导体器件的制造方法.pdfVIP

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  • 2023-05-17 发布于四川
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本发明公开一种半导体器件的制造方法,涉及半导体技术领域,用于提升Forksheet器件的良率,利于提升Forksheet器件的电学性能。所述半导体器件的方法包括:在半导体基底上形成层叠设置的沟道层和牺牲层。在层叠设置的沟道层和牺牲层上依次形成第一掩膜和第二掩膜。在第一掩膜和第二掩膜的掩膜作用下,对层叠设置的沟道层和牺牲层、以及部分半导体基底进行第一图案化处理,以形成第一凹槽。并在第一凹槽内形成浅槽隔离材料。去除第一掩膜。并在第二掩膜的掩膜作用下,对层叠设置的沟道层和牺牲层进行第二图案化处理,以形

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116130418 A (43)申请公布日 2023.05.16 (21)申请号 202310004400.9 (22)申请日 2023.01.03 (71)申请人 中国科学院微电子研究所 地址 1

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