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- 2023-05-17 发布于四川
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本发明提供一种应用于相位快速提取的高精度干涉检测系统与方法,系统包括:激光光源系统、相位调制系统、图像采集系统、计算机控制系统、非偏振分束器和光学衰减片;激光光源系统包括固体激光器、可旋转偏振镜和准直扩束镜;相位调制系统包括带通滤光片和液晶空间光调制器;图像采集系统包括成像透镜和CCD图像采集装置;固体激光器、可旋转偏振镜、准直扩束镜、非偏振分束器、带通滤光片和液晶空间光调制器依次排布;检测试件、光学衰减片、非偏振分束器、成像透镜和CCD图像采集装置依次排布。本发明的一种应用于相位快速提取的高精
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114812431 A
(43)申请公布日 2022.07.29
(21)申请号 202210241232.0
(22)申请日 2022.03.11
(71)申请人 上海电机学院
地址 200240
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