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本发明公开了一种基于超表面的偏振成像透镜、设计方法及检测系统，属于偏振成像与偏振探测领域。通过将纳米柱阵列分为三组，每组对应x/y，45°/‑45°以及左/右旋圆偏振分量，三组纳米柱单元之间的纳米柱周期性的交替间隔分布，经过物体的散射光入射至三组纳米柱单元，基于相应的正交离轴聚焦相位，所述三对正交的偏振态的分量分别同时在同一像面的不同位置处成像，形成六个带有不同偏振态的像。本发明实现了对物体进行实时高分辨的偏振成像，为偏振成像提供了一种紧凑、有利于小型化的方案。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114791670 A
(43)申请公布日 2022.07.26
(21)申请号 202210523185.9
(22)申请日 2022.05.13
(71)申请人 华中科技大学
地址 430074
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