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- 2023-05-17 发布于四川
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本发明提供一种太赫兹近场光路调试装置及其调试方法,旨在解决太赫兹近场光路调试中难以保证导引激光与太赫兹波重合度,信号调试难度大且探测效率低的问题,太赫兹近场光路调试装置,包括有:两个用于模拟太赫兹点光源的可见光点光源;两个准直可见激光源,用于提供两束可见导引激光;两组光路调节系统,用于将可见光点光源的出射光调节为准直光束并与导引激光实现共轴传输;反射镜,设置于两组光路调节系统的出射端;凹面反射镜,用于将准直光束聚焦于离型纸上;离型纸,用于模拟针尖来承接聚焦光斑并对其进行散射;太赫兹点光源;太赫兹
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114813623 A
(43)申请公布日 2022.07.29
(21)申请号 202210362950.3
(22)申请日 2022.04.08
(71)申请人 仪晟科学仪器(嘉兴)有限公司
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