通过耦合馈电倒置微带线测量液晶材料介电常数的装置和方法.pdfVIP

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2023-05-18 发布于北京
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通过耦合馈电倒置微带线测量液晶材料介电常数的装置和方法.pdf

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本发明公开提供了一种通过耦合馈电倒置微带线测量液晶材料介电常数的装置和方法，装置包括三块介质板，第一块介质板构建倒置微带线、偏压延伸线、耦合电容片和用于馈电的共面波导；第二块介质板设置矩形空腔用于装载注入的待测液晶材料；第三块介质板作为地，在倒置微带线和地之间施加偏压，对处于空腔中的液晶分子的长轴向进行调制。本发明利用了倒置微带线的谐振特性，并通过电容耦合与对其进行馈电的共面波导间接相连。避免了倒置微带线和共面波导通过过孔直接相连导致的将偏压引入射频链路的问题，从而可以施加较大的偏压对液晶材料进

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114859133 A (43)申请公布日 2022.08.05 (21)申请号 202210470135.9 (22)申请日 2022.04.28 (71)申请人南通大学地址 226019 江苏