芯片老化测试方法和系统.pdfVIP

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2023-05-20 发布于北京
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芯片老化测试方法和系统.pdf

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本申请涉及一种芯片老化测试方法和系统，其中，该芯片老化测试方法包括：获取待测试芯片的温度参数；根据所述温度参数，调节设备运行参数，使所述待测试芯片达到目标温度，所述设备运行参数包括风机转速、换热器水阀开度以及送风口开度中的一种或多种；在所述目标温度下对待测试芯片进行测试。通过本申请，解决了老化测试设备能耗较高的问题，实现了对芯片温度的自动化调整，降低了芯片老化测试设备的能耗。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114910772 A (43)申请公布日 2022.08.16 (21)申请号 202210337190.0 (22)申请日 2022.04.01 (71)申请人杭州长川科技股份有限公司地址 3