用于被测试设备谱分析的下降补偿.pdfVIP

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2023-05-20 发布于北京
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本申请公开了用于被测试设备谱分析的下降补偿。一种方法(700)包括确定被测试设备(DUT)的所测量的参数的下降分量(706)。所测量的参数响应于具有频率分量的激励信号(702、704)，并且下降分量响应于在第一时间处的参数的第一值和在第二时间处的参数的第二值被确定。在第一时间处的参数具有第一相位值，并且在第二时间处的参数具有第二相位值。第一相位值等于第二相位值。该方法还包括通过以下方式校正参数的频域表示：在对应于激励信号的频率分量的参数的表示的频率处应用下降分量(708)。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114924196 A (43)申请公布日 2022.08.19 (21)申请号 202210123650.X (22)申请日 2022.02.10 (30)优先权数据