半导体封装及其制造方法.pdfVIP

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
一种半导体封装,包括封装衬底,该封装衬底包括具有下表面和上表面的衬底本体、在下表面上并且包括着接区的下布线层、在上表面上并且电连接到下布线层的上布线层、以及在下表面上并且包括暴露着接区的开口的阻焊层。该半导体封装还包括在封装衬底上并且具有电连接到上布线层的接触焊盘的半导体芯片、以及在封装衬底上的模制部,其中,该封装衬底还包括开口区,该开口区由封装衬底的底表面的不存在阻焊层的部分限定,并且在封装衬底的底表面上与封装衬底的至少一个边缘相邻。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116130450 A (43)申请公布日 2023.05.16 (21)申请号 202211420926.7 H01L 21/56 (2006.01) (22)申请日 2022.11.

文档评论(0)

知识产权出版社 + 关注
官方认证
文档贡献者

知识产权出版社有限责任公司(原名专利文献出版社)成立于1980年8月,由国家知识产权局主管、主办。长期以来, 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作, 经过多年来的积累,已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

版权声明书
用户编号:5333241143000144
认证主体北京中献电子技术开发有限公司
IP属地四川
统一社会信用代码/组织机构代码
91110108102011667U

1亿VIP精品文档

相关文档