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基于单目结构光的自检自校准方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-05-23 发布于四川
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基于单目结构光的自检自校准方法及装置.pdf

    本发明实施例提供一种基于单目结构光的自检自校准方法及装置，首先获取单目结构光系统的参考图、物体图和误差阈值范围；然后根据参考图和物体图，确定参考图与物体图的行对齐误差；最后若行对齐误差在所述误差阈值范围内，则完成对单目结构光系统的自检自校准。通过判断行对齐误差在误差阈值范围内，完成对单目结构光系统的自检自校准，可以保证三维深度信息重建的过程中图像传感器的光轴方向和散斑投射器的光轴方向始终保持平行，便于后续进行三维深度信息重建。而且，不再需要进行返厂维修，可以降低三维深度信息重建的硬件成本以及时间

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112164099 A (43)申请公布日 2021.01.01 (21)申请号 202011010623.9 (22)申请日 2020.09.23 (71)申请人 北京的卢深视科技有限公司

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