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- 2023-05-24 发布于四川
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一种修复电压降的方法及装置，包括：区分芯片的各功能模块，并根据区分的功能模块将芯片的存储器划分为两个或两个以上存储器分组；为划分的存储器分组分别配置相应的测试向量，以控制不同存储器分组的存储器在不同时间工作。本发明实施例降低了存储器内建自测试电路的电压降，降低了电压降对芯片性能的影响，使电压降满足芯片的设计要求。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 109145338 A
(43)申请公布日
2019.01.04
(21)申请号 20171
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