基于偏振条纹投影的三维测量方法、系统、设备和介质.pdfVIP

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2023-05-24 发布于四川
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基于偏振条纹投影的三维测量方法、系统、设备和介质.pdf

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本公开涉及三维测量领域，具体涉及一种基于偏振条纹投影的三维测量方法、系统、设备和介质，提出偏振编码结合相移技术，在面对闪亮表面的高动态范围3D形状测量时能有更高的效率和稳定性；在强光条件下稳定地重建三维几何物体；该方法用偏振编码图取代了传统的灰度编码图，能够明显抑制二值化后的白色条纹边缘对黑色条纹的扩散现象，以帮助相移图案进行相位展开，虽然测量对象拥有HDR表面，但能准确地获得相应的相位周期，有效地抑制了高光引起的相位边缘跳变误差，提高了相位展开的鲁棒性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115979178 A (43)申请公布日 2023.04.18 (21)申请号 202310132070.1 (22)申请日 2023.02.19 (71)申请人华东交通大学地址 330299