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2023-05-25 发布于四川
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一种数据循环冗余校验装置和方法.pdf

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本发明提供了一种数据循环冗余校验装置和方法，其装置包括：用于储存多种CRC标准算法，并根据用户指令选定目标CRC算法的控制寄存单元；用于存储第一预设位宽的待校验数据，并根据所述待校验数据的位宽和目标CRC算法得到对应数组的输入数据的数据寄存单元；用于将所述输入数据的当前数据位与其对应的多项式参数进行逻辑运算得到对应计算结果的初级校验单元；用于将所有计算结果进行逻辑运算得到校验结果的次级校验单元；用于储存校验结果的结果寄存单元。本发明可复用性高、速度快，并且大大提升差错检测能力。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112214349 A (43)申请公布日 2021.01.12 (21)申请号 202011424846.X (22)申请日 2020.12.09 (71)申请人上海灵动微电子股份有限公司

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