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本公开提供一种射频电路调试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电子电路技术领域，能够解决目前对射频电路进行调试时，研发人员的工作量大且对研发人员技能的要求较高的问题。具体技术方案为：获取待调试射频电路的电路参数；确定与电路类型对应的至少一个器件中每个器件的目标特征值以及标识信息；向用户发送第一调试指示信息，以便用户根据每个器件的标识信息将每个器件分别更换为目标特征值，生成更换后的电路；获取更换后的电路的特征参数；若确定特征参数小于或者等于预设特征参数阈值，则将更换后的电路作为与待调试射频电路对应
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112213615 A
(43)申请公布日 2021.01.12
(21)申请号 202010938627.7 H04B 17/29 (2015.01)
(22)申请日 2
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