- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开了一种嵌入式设备测试方法、装置及电子设备,对目标程序进行插桩;获取插桩后的目标程序运行过程中内存分配与函数调用数据;将内存分配与函数调用数据通过网络发送至服务器,以使所述服务器根据所述内存分配与函数调用数据分析目标程序的内存泄露情况。使用本发明的嵌入式设备测试方法,相较于现有技术,进行嵌入式设备内存泄露测试时,无需在嵌入式设备上保存大量内存分配与函数调用数据,同时也不需要调用嵌入式设备的CPU资源进行内存泄露分析,降低了嵌入式设备的内存消耗和CPU消耗。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112241366 A
(43)申请公布日 2021.01.19
(21)申请号 202011012214.2
(22)申请日 2020.09.23
(71)申请人 厦门亿联网络技术股份有限公司
文档评论(0)