一种激光器芯片高频性能测试装置、方法及存储介质.pdfVIP

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2023-05-25 发布于四川
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一种激光器芯片高频性能测试装置、方法及存储介质.pdf

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本发明公开了一种激光器芯片高频性能测试装置，包括：基板，以及设置于基板上的校准单元、验证单元和至少一个测试单元；校准单元包括开路模块、短路模块、负载模块和直通模块，校准单元用于对测试仪器的校准；验证单元用于对校准单元的校准结果进行验证；测试单元包括一组测试模块，测试单元用于测试待测激光器芯片的高频性能，解决了现有技术中的测试夹具需要设置额外的陶瓷基板来放置激光器以及额外的金线来导通信号链路，其中的陶瓷基板和金线会影响测试结果的技术问题，达到了消除陶瓷基板和金线的影响，无需编写程序，即可得到准确的

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112230128 A (43)申请公布日 2021.01.15 (21)申请号 202011461819.X G01M 11/00 (2006.01) (22)申请日 2