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本发明提供一种半导体装置以及传感器装置。其对修正用存储器的劣化进行检测。该半导体装置具备：修正用存储器，其存储有对修正对象进行修正的修正用数据；修正部，其使用从修正用存储器读取出的修正用数据，对传感器元件的检测值进行修正；诊断部，其使用从修正用存储器读取出的修正用数据，对修正用存储器进行诊断；以及控制部，其对从修正用存储器读取修正用数据时的读取条件进行控制，控制部使第一读取条件与第二读取条件不同，第一读取条件是读取用于修正的修正用数据时的读取条件，第二读取条件是读取用于诊断的修正用数据时的读取条
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112242167 A
(43)申请公布日
2021.01.19
(21)申请号 20201
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